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集成電路測試指南
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附錄 技術術語中英文對照表
作者通過分享自身經驗,為讀者提供一本以工程實踐為主的集成電路測試參考書。本書分為五篇共10章節來介紹實際芯片驗證及量產中半導體集成電路測試的概念和知識。第1篇由第1章和第2章組成,從測試流程和測試相關設備開始,力圖使讀者對于集成電路測試有一個整體的概念。第二篇由第3~5章組成,主要講解半導體集成電路的自動測試原理。第三篇開始進入工程實踐部分,本篇由第6章的集成運算放大器芯片和第7章的電源管理芯片測試原理及實現方法等內容構成。通過本篇的學習,讀者可以掌握一般模擬芯片的測試方法。第四篇為數字集成電路的具體實踐。我們選取了市場上應用需求量大的存儲芯片(第8章)和微控制器芯片(第9章),為讀者講述其測試項目和相關測試資源的使用方法。第五篇即第10章節,使讀者了解混合信號測試的實現方式,為后續的進階打下一個堅實的基礎。本書主要的受眾是想要或即將成為集成電路測試工程師的讀者,我們假設讀者已經學習過相應的基礎課程,主要包括電路分析、模擬電子技術、數字電子技術、信號與系統、數字信號處理以及計算機程序設計語言。通過本書的學習,讀者將對半導體集成電路測試有一個總體的概念,并可以掌握能直接應用到工作中的實戰技術,并借此以“術”入“道”。對于已經從事半導體集成電路測試的工程技術人員、集成電路產品工程師、設計工程師,本書也具有一定的參考意義。
目錄(78章)
倒序
- 封面
- 版權信息
- 序一
- 序二
- 序三
- 前言
- 第一篇 集成電路測試及測試系統簡介
- 第1章 集成電路測試簡介
- 1.1 集成電路測試的分類
- 1.2 IC測試項目
- 1.3 產品手冊與測試計劃
- 1.4 測試程序
- 第2章 集成電路測試系統
- 2.1 模擬IC測試系統
- 2.2 數字IC測試系統
- 2.3 混合IC測試系統
- 2.4 ST2500高性能數?;旌蠝y試系統
- 2.5 ST-IDE軟件系統
- 2.6 集成電路測試工程師實訓平臺
- 第二篇 集成電路基本測試原理
- 第3章 直流及參數測試
- 3.1 開短路測試
- 3.2 漏電流測試
- 3.3 電源電流測試
- 3.4 直流偏置與增益測試
- 3.5 輸出穩壓測試
- 3.6 數字電路輸入電平與輸出電平測試
- 第4章 數字電路功能及交流參數測試
- 4.1 測試向量
- 4.2 時序的設定
- 4.3 引腳電平的設定
- 4.4 動態負載測量開短路
- 第5章 混合信號測試基礎
- 5.1 時域與頻域分析
- 5.2 采樣
- 5.3 DAC的靜態參數測試
- 5.4 ADC的靜態參數測試
- 5.5 ADC/DAC的動態參數測試
- 第三篇 模擬集成電路測試與實踐
- 第6章 集成運算放大器測試與實踐
- 6.1 集成運算放大器的基本特性
- 6.2 集成運算放大器的特征參數測試方法
- 6.3 集成運算放大器測試計劃及硬件資源
- 6.4 測試程序開發
- 6.5 程序調試及故障定位
- 6.6 測試總結
- 第7章 電源管理芯片測試與實踐
- 7.1 電源管理芯片原理與基本特性
- 7.2 LDO特征參數測試方法
- 7.3 電源管理芯片測試計劃及硬件資源
- 7.4 測試程序開發
- 7.5 程序調試及故障定位
- 7.6 測試總結
- 第四篇 數字集成電路測試與實踐
- 第8章 存儲器測試與實踐
- 8.1 EEPROM原理與基本特征
- 8.2 EEPROM特征參數測試方法
- 8.3 EEPROM測試計劃及硬件資源
- 8.4 測試程序開發
- 8.5 程序調試及故障定位
- 8.6 測試總結
- 第9章 MCU測試與實踐
- 9.1 MCU原理與基本特征
- 9.2 MCU特征參數測試方法
- 9.3 MCU測試計劃及硬件資源
- 9.4 測試程序開發
- 9.5 程序調試及故障定位
- 9.6 測試總結
- 第五篇 混合集成電路測試與實踐
- 第10章 ADC測試
- 10.1 ADC原理及基本特征
- 10.2 ADC芯片特征參數及測試方法
- 10.3 ADC芯片測試計劃及硬件資源
- 10.4 測試程序開發
- 10.5 程序調試及故障定位
- 10.6 測試總結
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