- 集成電路測試指南
- 加速科技組編 鄔剛 王瑞金 包軍林編著
- 396字
- 2021-06-24 11:32:41
1.2 IC測試項目
IC產品的測試項目與大多數產品手冊所記載的參數相一致,通常可以分為直流(DC)參數測試、交流(AC)參數測試、功能測試、混合信號參數測試。
1. 直流參數測試
通常可以在產品手冊(Datasheet)中看到關于產品直流參數的相關部分,如表1.1所示。這些參數的測試又可以進一步分為開短路測試、輸入輸出電流測試、輸入輸出電壓測試、功耗測試、輸入輸出失調測試和增益測試。
表1.1 產品手冊直流參數示意

2. 交流參數測試
與產品輸入輸出相關的時間參數的測試,例如產品手冊所記錄的交流相關參數、頻率的測試,以及時間抖動的測試等。
3. 功能測試
功能測試簡單來講就是驗證IC產品是否可以按照真值表的邏輯進行正常的功能運作。真值表表述的邏輯功能以特定的圖形(Pattern)給被測器件施加輸入,再以得到的輸出與預先設定的期望值進行比較,從而判斷功能是否正常。
4. 混合信號參數測試
混合信號參數測試即與數模(DA)/模數(AD)轉換相關的靜態參數測試以及動態參數測試。