序一

集成電路作為現代高新技術產業的基石、支柱和原動力，在近半個世紀的歷史進程中，持續推動著計算機、通信和消費電子產品的創新發展，這在很大程度上改變了這個世界的面貌。在集成電路產業的發展鏈條中，集成電路設計是源頭，集成電路制造是基礎，集成電路測試則是保障。

遵循摩爾定律，集成電路特征工藝尺寸的按比例縮小已經持續了近50年，由此帶來的不只是制造工藝的精細化和設計方法的高效化，也使集成電路測試技術面臨巨大的挑戰。其一，芯片內部集成規模的增加超過了芯片引腳數量的增加，使得集成電路的可控制性和可觀測性難以保證；其二，每個芯片的引腳數量及空間密度的增加，對測試設備的精密程度和電磁兼容性提出了更高的要求；其三，數字芯片的運算速度和模擬芯片的工作頻率持續攀升，而測試設備的速度和頻率必須高于被測芯片；其四，集成電路測試不僅要滿足功能和性能指標的檢查要求，還要滿足對可靠性、可制造性和健壯性等的檢測要求。為了應對上述挑戰，集成電路測試技術也必須持續創新發展。

目前國內原創的集成電路測試技術方面的專著不多，這本書在一定程度上填補了這方面的空白。該書將基本原理和實踐經驗、測試方法和測試設備緊密地結合起來，涵蓋數字芯片、混合信號芯片、模擬芯片以及電源管理芯片等主要芯片類型的集成電路測試。我相信，此書的出版對于我國自主可控的集成電路產業，特別是集成電路測試行業的發展以及培養集成電路專門人才會起到積極而重要的作用。

莊奕琪
西安電子科技大學教授、博士生導師
國家集成電路人才培養基地主任