1.4　測試程序

測試程序（Test Program）是可以被ATE識別和執(zhí)行的指令集合。ATE之所以可以按照測試計劃完成對被測器件（Device Under Test，DUT）的測試，依靠的是在測試過程中按照測試程序控制測試系統(tǒng)硬件，施加激勵，測量響應，并與預期設定的門限（Limit）進行比較，最終對每個測試項給出“通過”（Pass）或“失效”（Fail）的結果。測試程序會按照器件在測試中表現出的性能進行相應的分類，這個過程叫作“Binning”，或者“分Bin”。另外，測試程序還會負責與外圍測試設備（如分選機、探針臺等）進行交互，并搜集和提供匯總的測試結果或數據給測試或生產工程師，用于良率（Yield）分析和控制。

1.4.1　測試程序的分類

測試按照不同的應用有不同的分類，相應的測試程序也有相應的分類，如特性化分析程序、量產程序等。測試程序根據不同的應用場景，會有不同的側重點。

特性化分析程序會盡可能地對各種參數做詳盡的測試，包括各種參數的變化組合，以便確定產品工作的邊界條件。特性化分析程序通常在芯片設計完成之后就開始開發(fā)，用來對產品進行全面的分析，收集的數據用于產品手冊的修正或設計及工藝的改進。

量產程序的主要目的是區(qū)分產品的好壞，所以需要在滿足測試覆蓋率的前提下盡可能地快速執(zhí)行，以達到增加產出、降低成本的目的。

1.4.2　量產測試程序的流程

測試項目按照什么樣的順序執(zhí)行，對于量產測試程序是很重要的。以下是幾個建議：

1）開短路測試應該放在首位。

2）失效比較多的項目應該盡早執(zhí)行。

3）針對不同的應用環(huán)境，定義不同速度等級的產品或多個Pass等級，這是提升良率的方法之一（例如Xilinx FPGA的-1、-2、-3速度等級，對應了器件可以支持的最高運行頻率）。

4）測試數據應該被定期檢測，以便對測試流程進行優(yōu)化。

圖1.13中給出了測試項目運行順序與分Bin示意圖。

1.4.3　分類篩選

測試的分Bin，實際上是根據測試結果對被測產品進行分類篩選的一種方式。例如前文所說的根據測試結果對IC支持的最高運行頻率進行分類篩選，得到不同速度等級的產品。

Bin分為硬件Bin（Hardware Bin）和軟件Bin（Software Bin）兩種。

硬件Bin對應產品的實際物理操作，把不同Bin的產品放在不同的料管或料盤中。硬件Bin的數量受限于與ATE連接的分選機或探針臺參數。軟件Bin的數量通常只是受到ATE系統(tǒng)軟件的限制，可以定義的數量較多，能夠更詳細地分辨產品的失效狀況。