第2章　集成電路測試系統

為滿足大規模集成電路量產的需求，一般需要測試系統的ATE具有通用性，即可以完成某一大類大部分集成電路的功能及參數測試，這些大類包括：數字電路、模擬電路、混合信號。每種類型還可以細分成更多種類，如數字電路又包含存儲器，模擬電路里又包含射頻元件，等等。

測試機制造廠商根據這些產品測試需求推出不同型號的測試機，每家制造商采用的具體實現方式都會不同，但在整體結構上可以用通用的方式來描述。本章介紹了通用IC測試系統的組成和工作原理。