芯片驗(yàn)證調(diào)試手冊：驗(yàn)證疑難點(diǎn)工作錦囊
資深芯片驗(yàn)證專家劉斌（路桑）圍繞目前芯片功能驗(yàn)證的主流方法—?jiǎng)討B(tài)仿真面臨的日常問題展開分析和討論。根據(jù)驗(yàn)證工程師在仿真工作中容易遇到的技術(shù)疑難點(diǎn)，本書內(nèi)容在邏輯上分為SystemVerilog疑難點(diǎn)、UVM疑難點(diǎn)和Testbench疑難點(diǎn)三部分。作者精心收集了上百個(gè)問題，給出翔實(shí)的參考用例，指導(dǎo)讀者解決實(shí)際問題。在這本實(shí)踐性很強(qiáng)的書中，作者期望能夠?qū)⒆髡吲c諸多工程師基于常見問題的交流進(jìn)行總結(jié)，以易讀易用的組織結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)給讀者，目的是幫助芯片驗(yàn)證工程師更有效地處理技術(shù)疑難點(diǎn)，加快芯片驗(yàn)證的調(diào)試過程。本書面向在崗的芯片驗(yàn)證工程師，可作為日常桌邊工作手冊翻閱，也可用于工作之余查漏補(bǔ)缺以提高自身技術(shù)能力。
·5.7萬字
