集成電路測試技術(shù)
本書全面、系統(tǒng)地介紹了集成電路測試技術(shù)。全書共分10章，主要內(nèi)容包括：集成電路測試概述、數(shù)字集成電路測試技術(shù)、模擬集成電路測試技術(shù)、數(shù)模混合集成電路測試技術(shù)、射頻電路測試技術(shù)、SoC及其他典型電路測試技術(shù)、集成電路設(shè)計(jì)與測試的鏈接技術(shù)、測試接口板設(shè)計(jì)技術(shù)、集成電路測試設(shè)備、智能測試。書后還附有詳細(xì)的測試實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書，可有效指導(dǎo)讀者開展相關(guān)測試程序開發(fā)實(shí)驗(yàn)。本書可供集成電路測試等相關(guān)領(lǐng)域的科研人員和工程技術(shù)人員閱讀使用，也可以作為高等院校電子科學(xué)與技術(shù)、微電子工程等相關(guān)專業(yè)的教學(xué)用書。
·15.6萬字
