不確定性量化及其在集成電路中的應(yīng)用
本書基于作者十五年的學(xué)術(shù)成果與產(chǎn)業(yè)經(jīng)驗，聚焦不確定性量化研究及其在集成電路中的應(yīng)用。全書分為基礎(chǔ)篇、方法篇和應(yīng)用篇，共7章?；A(chǔ)篇（第一、二章）簡要介紹了什么是不確定性、不確定性量化這一交叉學(xué)科的發(fā)展現(xiàn)狀，以及不確定性建模和相關(guān)基礎(chǔ)知識。方法篇（第3~5章）從不確定性量化的研究目標(biāo)出發(fā)，系統(tǒng)梳理了參數(shù)不確定性、模型不確定性和逆向建模這3類不確定性量化常見問題及對應(yīng)量化方法。應(yīng)用篇（第6、7章）針對不確定性量化研究的多學(xué)科交叉特性，展示了其在集成電路的新材料研發(fā)和電子設(shè)計自動化中的應(yīng)用實踐與推廣潛力。本書面向從事不確定性量化理論研究與應(yīng)用實現(xiàn)的讀者群體，所用案例多取自作者過往的學(xué)術(shù)成果，所提供的偽代碼與示例將有助于讀者復(fù)現(xiàn)相關(guān)算法框架，從而掌握不確定性量化的主流方法。
·12.4萬字
