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CMOS集成電路EDA技術(shù)(第2版)
最新章節(jié):
文后內(nèi)容
集成電路發(fā)展到今天,單芯片內(nèi)能夠集成高達百億個晶體管,在集成電路的設(shè)計中需要依靠電子設(shè)計自動化(EDA)工具進行電路仿真、綜合、版圖設(shè)計、寄生參數(shù)提取和后仿真。EDA工具的使用可以使設(shè)計者在虛擬的計算機環(huán)境中進行早期的設(shè)計驗證,有效縮短了電路實體迭代驗證的時間,提高了芯片設(shè)計的成功率。一款成功的芯片源于無數(shù)工程師成功的設(shè)計,而成功的設(shè)計在很大程度上又取決于有效、成熟的集成電路EDA設(shè)計工具。本書面向微電子學與固體電子學專業(yè)相關(guān)的課程教學要求和集成電路設(shè)計相關(guān)的工程應用需求,以提高實際工程設(shè)計能力為目的,采取循序漸進的方式,介紹了進行CMOS集成電路設(shè)計時所需的EDA工具。主要分為EDA設(shè)計工具概述、模擬集成電路EDA技術(shù)、數(shù)字集成電路EDA技術(shù)與集成電路反向分析技術(shù)等部分。在模擬集成電路方面,依次介紹了電路設(shè)計及仿真工具CadenceSpectre、版圖設(shè)計工具CadenceVirtuoso、版圖驗證及參數(shù)提取工具MentorCalibre在內(nèi)的各種工具的基本知識和使用方法。在數(shù)字集成電路方面,在簡單介紹硬件描述語言VerilogHDL的基礎(chǔ)上,介紹RTL仿真工具Modelsim、邏輯綜合工具DesignCompiler、數(shù)字后端版圖工具ICCompiler和Encounter四大類設(shè)計工具。最終對集成電路使用反向EDA技術(shù)進行全面的闡述。書中配以電路設(shè)計實例,進一步分析各種EDA工具的設(shè)計輸入方法和技巧,形成一套完整的CMOS集成電路設(shè)計流程。本書使讀者通過實例深刻了解使用CMOS集成電路EDA工具進行設(shè)計的基本流程和方法,可作為高等院校微電子學與固體電子學專業(yè)本科生與研究生集成電路EDA課程的實驗教材和輔導書,或者相關(guān)專業(yè)技術(shù)人員的自學參考書。
目錄(215章)
倒序
- 封面
- 版權(quán)頁
- 文前內(nèi)容
- 第2版前言
- 第1版前言
- 第1章 CMOS集成電路EDA技術(shù)
- 1.1 CMOS集成電路EDA技術(shù)概述
- 1.2 CMOS模擬集成電路設(shè)計流程
- 1.3 CMOS模擬集成電路EDA工具分類
- 1.4 CMOS數(shù)字集成電路設(shè)計流程
- 1.5 CMOS數(shù)字集成電路EDA工具分類
- 1.6 小結(jié)
- 第2章 模擬電路設(shè)計及仿真工具Cadence Spectre
- 2.1 Spectre的特點
- 2.2 Spectre的仿真設(shè)計方法
- 2.3 Spectre與其他EDA軟件的連接
- 2.4 Spectre的基本操作
- 2.4.1 Cadence Spectre啟動設(shè)置
- 2.4.2 Spectre主窗口和選項介紹
- 2.4.3 設(shè)計庫管理器介紹
- 2.4.4 電路圖編輯器介紹
- 2.4.5 模擬設(shè)計環(huán)境介紹
- 2.4.6 波形顯示窗口介紹
- 2.4.7 波形計算器介紹
- 2.5 Spectre庫中的基本器件
- 2.5.1 無源器件
- 2.5.2 有源器件
- 2.5.3 信號源
- 2.6 低壓差線性穩(wěn)壓器的設(shè)計與仿真
- 2.7 高階仿真功能與實例
- 2.7.1 FFT仿真
- 2.7.2 Monte Carlo仿真
- 2.8 小結(jié)
- 第3章 版圖設(shè)計工具Cadence Virtuoso
- 3.1 Virtuoso界面介紹
- 3.1.1 窗口標題欄
- 3.1.2 狀態(tài)欄
- 3.1.3 菜單欄
- 3.1.4 圖標菜單
- 3.1.5 設(shè)計區(qū)域
- 3.1.6 光標和指針
- 3.1.7 鼠標狀態(tài)
- 3.1.8 提示欄
- 3.1.9 層選擇窗口
- 3.2 Virtuoso基本操作
- 3.2.1 創(chuàng)建矩形
- 3.2.2 創(chuàng)建多邊形
- 3.2.3 創(chuàng)建路徑
- 3.2.4 創(chuàng)建標識名
- 3.2.5 創(chuàng)建器件和陣列
- 3.2.6 創(chuàng)建接觸孔
- 3.2.7 創(chuàng)建圓形圖形
- 3.2.8 移動命令
- 3.2.9 復制命令
- 3.2.10 拉伸命令
- 3.2.11 刪除命令
- 3.2.12 合并命令
- 3.2.13 選擇和放棄選擇命令
- 3.2.14 改變層次關(guān)系命令
- 3.2.15 切割命令
- 3.2.16 旋轉(zhuǎn)命令
- 3.2.17 屬性命令
- 3.2.18 分離命令
- 3.3 運算放大器版圖設(shè)計實例
- 3.3.1 NMOS晶體管版圖設(shè)計
- 3.3.2 運算放大器版圖設(shè)計
- 3.4 小結(jié)
- 第4章 模擬版圖驗證及參數(shù)提取工具Mentor Calibre
- 4.1 Mentor Calibre版圖驗證工具調(diào)用
- 4.1.1 Virtuoso Layout Editor工具啟動
- 4.1.2 采用Calibre圖形界面啟動
- 4.1.3 采用Calibre View查看器啟動
- 4.2 Mentor Calibre DRC驗證
- 4.2.1 Calibre DRC驗證簡介
- 4.2.2 Calibre DRC界面介紹
- 4.2.3 Calibre DRC驗證流程舉例
- 4.3 Mentor Calibre LVS驗證
- 4.3.1 Calibre LVS驗證簡介
- 4.3.2 Calibre LVS界面介紹
- 4.3.3 Calibre LVS驗證流程舉例
- 4.4 Mentor Calibre寄生參數(shù)提取
- 4.4.1 Calibre PEX驗證簡介
- 4.4.2 Calibre PEX界面介紹
- 4.4.3 Calibre PEX流程舉例
- 4.5 小結(jié)
- 第5章 硬件描述語言及仿真工具Modelsim
- 5.1 硬件描述語言及仿真概述
- 5.2 硬件描述語言與應用實例
- 5.2.1 硬件描述語言基礎(chǔ)
- 5.2.2 硬件描述語言應用實例
- 5.2.3 硬件描述語言的可綜合設(shè)計
- 5.2.4 硬件描述語言設(shè)計實例
- 5.3 數(shù)字電路仿真工具Modelsim
- 5.3.1 Modelsim的特點與應用
- 5.3.2 Modelsim的基本使用
- 5.3.3 Modelsim的進階使用
- 5.4 小結(jié)
- 第6章 數(shù)字邏輯綜合及Design Compiler
- 6.1 邏輯綜合概述
- 6.1.1 邏輯綜合的定義及發(fā)展歷程
- 6.1.2 邏輯綜合的流程
- 6.2 Design Compiler簡介
- 6.2.1 Design Compiler的功能
- 6.2.2 Design Compiler的使用模式
- 6.2.3 DC-Tcl簡介
- 6.3 Design Compiler綜合設(shè)計
- 6.3.1 啟動工具及初始環(huán)境配置
- 6.3.2 綜合庫
- 6.3.3 Design Compiler綜合流程
- 6.4 靜態(tài)時序分析與設(shè)計約束
- 6.4.1 靜態(tài)時序分析
- 6.4.2 亞穩(wěn)態(tài)
- 6.4.3 時鐘的約束
- 6.4.4 輸入輸出路徑的約束
- 6.4.5 組合邏輯路徑的約束
- 6.4.6 時間預算
- 6.4.7 設(shè)計環(huán)境約束
- 6.4.8 多時鐘同步設(shè)計約束
- 6.4.9 異步設(shè)計約束
- 6.4.10 多時鐘的時序約束
- 6.5 基于狀態(tài)機的交通燈綜合
- 6.6 小結(jié)
- 第7章 數(shù)字電路物理層設(shè)計工具IC Compiler
- 7.1 IC Compiler簡介
- 7.2 IC Compiler物理層設(shè)計的數(shù)據(jù)準備
- 7.2.1 邏輯層數(shù)據(jù)
- 7.2.2 物理層數(shù)據(jù)
- 7.2.3 設(shè)計數(shù)據(jù)
- 7.3 創(chuàng)建設(shè)計數(shù)據(jù)庫與后端數(shù)據(jù)的設(shè)置
- 7.3.1 邏輯庫設(shè)置
- 7.3.2 物理庫設(shè)置
- 7.3.3 其他文件設(shè)置
- 7.3.4 創(chuàng)建設(shè)計數(shù)據(jù)庫
- 7.3.5 庫文件檢查
- 7.3.6 網(wǎng)表導入
- 7.3.7 Tlu+文件設(shè)置與檢查
- 7.3.8 電源網(wǎng)絡(luò)設(shè)置
- 7.3.9 TIE單元設(shè)置
- 7.3.10 導入SDC文件并進行時序約束檢查
- 7.3.11 定時序優(yōu)化參數(shù)
- 7.4 不同PVT角下綜合優(yōu)化的設(shè)置方法
- 7.4.1 scenario的建立
- 7.4.2 PVT角設(shè)定
- 7.5 宏單元與IO布局
- 7.5.1 IO布局與芯片布局空間創(chuàng)建
- 7.5.2 宏單元的擺放
- 7.6 電源網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計與分析
- 7.6.1 設(shè)計電源和地環(huán)
- 7.6.2 設(shè)計電源和地條
- 7.6.3 連接宏單元和標準單元
- 7.7 標準單元的布局與優(yōu)化
- 7.7.1 檢查是否需要添加tap cell
- 7.7.2 spare cell的標識
- 7.7.3 檢查設(shè)計輸入文件與約束
- 7.7.4 確認所有路徑已經(jīng)被正確地設(shè)置
- 7.8 時鐘樹綜合與優(yōu)化
- 7.8.1 綜合前的檢查
- 7.8.2 時鐘樹綜合設(shè)置
- 7.8.3 執(zhí)行時鐘樹綜合核心命令
- 7.9 芯片布線與優(yōu)化
- 7.9.1 布線前的檢查
- 7.9.2 ICC布線相關(guān)設(shè)置
- 7.9.3 天線效應簡介與設(shè)置
- 7.9.4 執(zhí)行布線命令
- 7.10 芯片ECO與設(shè)計文件導出
- 7.10.1 Freeze silicon ECO
- 7.10.2 unconstrained ECO
- 7.10.3 設(shè)計結(jié)果導出
- 7.11 小結(jié)
- 第8章 數(shù)字電路物理層設(shè)計工具Encounter
- 8.1 Encounter工具發(fā)展歷史
- 8.2 Encounter設(shè)計流程介紹
- 8.3 數(shù)據(jù)準備
- 8.3.1 設(shè)計數(shù)據(jù)
- 8.3.2 邏輯庫數(shù)據(jù)
- 8.3.3 物理庫數(shù)據(jù)
- 8.3.4 數(shù)據(jù)準備常用的指令
- 8.4 布圖規(guī)劃與布局
- 8.4.1 布圖與IO排布
- 8.4.2 電源網(wǎng)絡(luò)設(shè)計
- 8.4.3 標準單元的布局與優(yōu)化
- 8.4.4 布圖規(guī)劃與布局常用指令與流程
- 8.5 時鐘樹綜合
- 8.5.1 時鐘樹綜合簡介
- 8.5.2 時鐘樹流程與優(yōu)化
- 8.6 芯片布線
- 8.6.1 芯片布線工具簡介
- 8.6.2 特殊布線
- 8.6.3 一般布線
- 8.6.4 芯片布線流程與優(yōu)化
- 8.7 芯片ECO與DFM
- 8.7.1 ECO流程與優(yōu)化
- 8.7.2 DFM流程與優(yōu)化
- 8.8 小結(jié)
- 第9章 集成電路反向分析EDA技術(shù)
- 9.1 集成電路反向分析概述
- 9.1.1 反向分析技術(shù)的主要應用
- 9.1.2 反向分析技術(shù)的主要流程
- 9.1.3 反向分析EDA技術(shù)
- 9.2 電路網(wǎng)表提取
- 9.2.1 網(wǎng)表提取概述
- 9.2.2 網(wǎng)表提取流程
- 9.2.3 模擬單元提取
- 9.2.4 數(shù)字單元提取
- 9.2.5 線網(wǎng)繪制與檢查
- 9.2.6 數(shù)據(jù)的導入和導出
- 9.3 電路層次化分析整理
- 9.3.1 電路分析整理概述
- 9.3.2 層次化整理流程
- 9.3.3 模擬電路的層次化整理
- 9.3.4 數(shù)字電路的層次化整理
- 9.3.5 整理數(shù)據(jù)的導出
- 9.4 小結(jié)
- 參考文獻
- 文后內(nèi)容 更新時間:2022-12-14 19:36:47
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