4.3　樣品表征

用X射線衍射儀（XRD，X' Pert PRO）表征樣品的晶體結(jié)構(gòu)，用帶有X射線能譜儀（EDX）的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM，Nova NanoSEM 450）表征樣品的形貌特征，用透射電子顯微鏡（TEM，JEOL JEM-2100）表征樣品的顯微結(jié)構(gòu)，用紫外可見漫反射分光光度計(jì)（Shimadzu UV-2550）測(cè)試樣品的紫外可見漫反射（UV-Vis）吸收光譜。電池的J-V曲線是在標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)［即AM1.5（1O0mW/cm2），25℃］下利用電化學(xué)工作站的線性掃描法測(cè)得。