1.2 可測性設(shè)計(jì)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及方法

1.2.1 可測性設(shè)計(jì)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

可測性設(shè)計(jì)的基本原理是要轉(zhuǎn)變測試思想，將輸入信號(hào)的枚舉與排列的完全測試方法，轉(zhuǎn)變?yōu)閷﹄娐穬?nèi)各個(gè)節(jié)點(diǎn)的測試，即直接對電路硬件組成單元進(jìn)行測試，降低測試的復(fù)雜性。

制定可測性國際標(biāo)準(zhǔn)的目標(biāo)，是盡可能使測試方法、結(jié)構(gòu)、接口和數(shù)據(jù)格式標(biāo)準(zhǔn)化。這也是保證可測性設(shè)計(jì)技術(shù)通用性和可復(fù)用性的重要基礎(chǔ)。

可測性國際標(biāo)準(zhǔn)的制定，起源于20世紀(jì)80年代末期。當(dāng)時(shí)基于結(jié)構(gòu)化可測性設(shè)計(jì)方法已經(jīng)相當(dāng)成熟，但存在過程復(fù)雜、設(shè)計(jì)周期較長、成本高、設(shè)計(jì)方法不兼容、產(chǎn)品的維修性較差等缺陷，嚴(yán)重影響了可測性設(shè)計(jì)技術(shù)的應(yīng)用。鑒于結(jié)構(gòu)化可測性設(shè)計(jì)方法的上述缺點(diǎn)，有必要開發(fā)一種更為簡單、標(biāo)準(zhǔn)化的可測性設(shè)計(jì)方法。

1990年，美國電氣電子工程師學(xué)會(huì)（IEEE）和聯(lián)合測試工作組（JTAG）共同推出了IEEE 1149.1-1990邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)，目前該標(biāo)準(zhǔn)仍是數(shù)字集成電路與系統(tǒng)的主流可測性設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。經(jīng)過對該標(biāo)準(zhǔn)的擴(kuò)展，形成了混合信號(hào)測試的國際標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.4，模塊級(jí)的測試與維護(hù)總線標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.5，高級(jí)數(shù)字化網(wǎng)絡(luò)測試標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.6。在IEEE頒布的基于內(nèi)嵌芯核的片上系統(tǒng)（SoC）測試標(biāo)準(zhǔn)IEEE P1500中，也借鑒和采納了IEEE 1149.1中的許多原理和技術(shù)，并在總體上與IEEE 1149.1兼容。由于該技術(shù)是由JTAG提出的，所以常被稱為JTAG標(biāo)準(zhǔn)，其接口和總線常被稱為JTAG接口和JTAG總線。