1.2 可測性設計的相關標準及方法

1.2.1 可測性設計的相關標準

可測性設計的基本原理是要轉變測試思想，將輸入信號的枚舉與排列的完全測試方法，轉變為對電路內各個節點的測試，即直接對電路硬件組成單元進行測試，降低測試的復雜性。

制定可測性國際標準的目標，是盡可能使測試方法、結構、接口和數據格式標準化。這也是保證可測性設計技術通用性和可復用性的重要基礎。

可測性國際標準的制定，起源于20世紀80年代末期。當時基于結構化可測性設計方法已經相當成熟，但存在過程復雜、設計周期較長、成本高、設計方法不兼容、產品的維修性較差等缺陷，嚴重影響了可測性設計技術的應用。鑒于結構化可測性設計方法的上述缺點，有必要開發一種更為簡單、標準化的可測性設計方法。

1990年，美國電氣電子工程師學會（IEEE）和聯合測試工作組（JTAG）共同推出了IEEE 1149.1-1990邊界掃描標準，目前該標準仍是數字集成電路與系統的主流可測性設計標準。經過對該標準的擴展，形成了混合信號測試的國際標準IEEE 1149.4，模塊級的測試與維護總線標準IEEE 1149.5，高級數字化網絡測試標準IEEE 1149.6。在IEEE頒布的基于內嵌芯核的片上系統（SoC）測試標準IEEE P1500中，也借鑒和采納了IEEE 1149.1中的許多原理和技術，并在總體上與IEEE 1149.1兼容。由于該技術是由JTAG提出的，所以常被稱為JTAG標準，其接口和總線常被稱為JTAG接口和JTAG總線。