2.3　樣品表征

用X射線衍射儀（XRD，X' Pert PRO）表征樣品的晶體結構，用帶有X射線能譜儀（EDX）的場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM，Nova NanoSEM 450）表征樣品的形貌特征，用透射電子顯微鏡（TEM，JEOL JEM-2100）表征樣品的顯微結構。