1.3　聚合物的低圖像襯度

聚合物材料大多由低原子序數元素所組成，對入射電子的散射能力弱，二次電子的發(fā)射能力也弱，因而，與金屬或陶瓷等材料相比，在TEM和SEM觀察中常常表現出明顯較弱的圖像襯度。在許多情況下，未經襯度增強處理的聚合物試樣常常不能顯示任何微結構信息。因此，對聚合物試樣，電鏡觀察前的試樣預處理一般是必不可少的。

化學重金屬染色是最常使用的增強聚合物圖像襯度的方法。聚合物的各個不同結構元或區(qū)域，例如，層狀結構元、無定形區(qū)/結晶區(qū)、界面區(qū)、分子聚集密度不同的區(qū)域、空域區(qū)、不同聚合物相和其他結構單元，與染色介質有不相同的反應性能或對染色介質有不同的聚集性能，重金屬元素將與各個不同區(qū)域有選擇性地相結合或聚集，從而形成或增強質量厚度襯度。

有些物理方法也可用于產生結構元之間的襯度，例如聚合物不同組分對輻照敏感性的差異，以及應變和熱效應引入的襯度增強等。

在SEM觀察中，對試樣表面的化學或物理蝕刻是增強襯度的有效方法。金屬投影則在TEM的復型觀察和SEM觀察中有顯著效果。