1.2.2　激光誘導擊穿光譜

激光誘導擊穿光譜（LIBS）是一種發射光譜技術，通過超短脈沖激光聚焦樣品表面形成等離子體，進而對等離子體發射光譜進行分析以確定樣品的物質成分及含量。超短脈沖激光聚焦后能量密度較高，可以將任何物態（固態、液態、氣態）的樣品激發形成等離子體，LIBS技術（原則上）可以分析任何物態的樣品，僅受到激光的功率以及檢測器的靈敏度和波長范圍的限制。如表1-3所示，大多數稀土元素的檢測限在10～100μg/g之間，一般檢測精度在3%～5%之間，而均勻材料的檢測精度通常在2%以內。與其他技術相比，LIBS技術有許多優點，比如它可以快速測量、可以在現場使用、不需要進行樣品制備、只消耗少量樣品。LIBS最大的優點是能夠在幾秒鐘內對不同的金屬（包括稀土和非金屬）進行實時識別。這一特點在從廢棄電子產品中回收稀土元素的方面具有特殊用途。利用LIBS進行固體測量的精度常常可與XRF相比擬，而后者也可以在現場測量固體目標中的元素。從整體精度來看，LIBS原位分析的適用性近似于XRF檢測。