1.2.1　X射線熒光光譜

如表1-3所示，盡管X射線熒光光譜法（XRF）對稀土元素分析敏感度較低，但該技術仍是一種可靠的μg/g級別的微量元素分析方法。XRF作為一種常規的稀土元素分析技術，在準確度、速度和成本等方面與其他方法相比具有明顯的優勢，而它唯一的缺點就是靈敏度相對較低。根據激發、色散和檢測方法的不同，可分為波長色散X射線熒光光譜法（WD-XRF）和能量色散X射線熒光光譜，這兩種方法已成功地應用于地質和環境物質中稀土元素的測定。一般而言，由于該技術為稀土元素提供了較高的檢測下限，所以許多測定方法都涉及分離和預濃縮步驟，以便準確測定稀土元素。例如，Juras等[26]發展了一種能快速、靈敏地分析樣品中稀土元素的方法，通過離子交換將所有稀土元素與超鎂鐵質巖和流紋巖中其他成分分離后，用X射線熒光光譜法（XRF）分析各種成分。Wu等[27]對XRF分析技術在中國稀土行業中的應用進行了綜述，其應用包括礦石和土壤、精礦、化合物、金屬、合金及功能材料中的稀土元素分析，和分離過程中的快速在線分析等。Smolinski等[28]已使用WD-XRF測定了波蘭煤礦中煤燃燒灰分中 16種稀土元素的含量。近年來，便攜式XRF被成功應用于La、Ce、Pr、Nd等稀土元素的現場定量，以及Y、Th、Nb等元素的化學勘探研究中的稀土元素尋徑儀。這些小工具在該領域極具價值，有助于迅速確定勘探、礦石品級控制和環境可持續性研究的下一步行動方向。