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6.1 半導體pn結的形成

6.1.1 pn結的形成和雜質分布

熱平衡條件下半導體的理想突變pn結如圖6-1所示。設pn結界面兩側為均勻摻雜的p型硅和n型硅,摻雜濃度分別為NAND。在室溫條件下,雜質原子全部電離,在p型硅中分布著濃度為pp的空穴和濃度為np的電子(在p型硅中,電子為少子),在n型硅中分布著濃度為nn的電子和濃度為pn的空穴(在n型硅中,空穴為少子)。如圖6-1(a)所示,當p型硅和n型硅相互接觸時,構成pn結,由于交界面兩側的電子和空穴的濃度不同,存在載流子濃度梯度,引起載流子擴散??昭◤膒型區擴散到n型區,電子從n型區擴散到p型區,如圖6-1(c)所示。由于半導體中受主離子是固定在晶格上的,不能移動,而空穴卻可以移動??昭x開p型區后,pn結附近一些受主負離子(NA)得不到補償,導致pn結附近p型側形成負空間電荷區。類似地,電子離開n型區后,在pn結附近的n型一側也留下一些帶正電的施主離子(ND)得不到補償,在n型側形成正空間電荷區。結果,兩種多子擴散電流的方向相反,整個空間電荷區是一個電偶層,產生從正電荷指向負電荷的自建電場(也稱內建電場),其方向如圖6-1(e)下部所示。在內建電場作用下,載流子做漂移運動。顯然,電子和空穴的漂移運動方向相反,與它們各自的擴散運動方向也相反。內建電場起著阻礙電子和空穴繼續擴散的作用。隨著擴散運動的進行,空間電荷逐漸增多,內建電場增強,漂移運動也同時增強,直至方向相反的擴散電流和漂移電流的大小相等,互相抵消,凈電流為零,達到動態平衡。此時,空間電荷區也稱為平衡時pn結的結區。

在pn結界面兩側分別由固定電離雜質形成的正、負電荷區中,由于電子或空穴幾乎全都流失或復合殆盡,所以這一層也稱耗盡層。

空間電荷區的寬度隨摻雜濃度的增高而變窄。自建電場兩邊的電勢差稱為pn結的接觸勢壘。電子或空穴都要克服這個勢壘才能越過pn結,所以空間電荷區也稱勢壘區或阻擋層。勢壘的高度與材料的性質、n型區和p型區的摻雜濃度和溫度有關。

圖6-1 熱平衡條件下半導體的理想突變pn結

在圖6-1中,(a)所示為均勻摻雜的p型硅和n型硅;(b)所示為空間電荷區電荷分布;(c)所示為當p型硅與n型硅相互接觸時,由于交界面兩側的電子和空穴的濃度不同,電子和空穴產生擴散運動;(d)所示為各區載流子分布;(e)所示為由空間電荷區的電偶層建立起來的由n型區指向p型區的內建電場;(f)所示為空間電荷區的電場強度分布;(g)所示為n型區和p型區摻雜濃度分別為NAND的雜質分布;(h)所示為靜電勢的分布,其變化與電子勢能相反。

6.1.2 pn結的能帶結構

圖6-2所示為pn結的能帶結構。按照能帶理論,n型半導體中電子濃度大,準費米能級EFn位置較高;p型半導體中空穴濃度大,準費米能級EFp位置較低,如圖6-2(a)所示。

當兩者形成pn結時,載流子先擴散、后漂移。在自建電場作用下,電子將從費米能級高處移向低處,而空穴則相反。n型區能帶下移,p型區能帶上移,直到在形成pn結的半導體中有了統一的費米能級EFEFn=EFp=EF),達到平衡,如圖6-2(b)所示。

平衡狀態下的pn結,價帶和導帶彎曲形成勢壘,如圖6-2(c)所示。圖中,Eip、Ein分別表示p型區和n型區中的本征費米能級,ψBp=(Eip-EFp)/qψBn=(Ein-EFn)/q分別為p型區和n型區的靜電勢(也稱費米勢),ψD=ψBn+ψBp為總靜電勢。熱平衡時,總靜電勢就是空間電荷區兩端間電勢差,稱之為接觸電勢差,即pn結自建電壓Vbi。

圖6-2 pn結的能帶結構

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