- 電子技術(shù)基礎(chǔ)
- 詹新生 孫愛俠 李美鳳 張玉健
- 3112字
- 2020-05-28 17:22:29
第2章 晶體管及其放大電路
2.1 晶體管
晶體管是一種重要的半導(dǎo)體器件,是放大電路的核心。
2.1.1 晶體管的結(jié)構(gòu)及分類
1. 晶體管的結(jié)構(gòu)與電路符號(hào)
常見晶體管的外形如圖2-1所示。

圖2-1 常見晶體管的外形
晶體管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖電路符號(hào)如圖2-2所示,含有3個(gè)區(qū):發(fā)射區(qū)、基區(qū)及集電區(qū)。從3個(gè)區(qū)各引出一個(gè)金屬電極,分別稱為發(fā)射極(E)、基極(B)和集電極(C);同時(shí)在3個(gè)區(qū)的兩個(gè)交界處分別形成兩個(gè)PN結(jié),發(fā)射區(qū)與基區(qū)之間形成的PN結(jié)稱為發(fā)射結(jié),集電區(qū)與基區(qū)之間形成的PN結(jié)稱為集電結(jié)。按半導(dǎo)體的組合方式不同,可將其分為NPN型管和PNP型管。圖2-2符號(hào)中箭頭方向表示放大狀態(tài)時(shí)發(fā)射結(jié)的實(shí)際電流方向。

圖2-2 晶體管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖與電路符號(hào)
a)NPN型 b)PNP型
2. 晶體管的分類
晶體管按其結(jié)構(gòu)類型分為NPN型管和PNP型管;按其制作材料分為硅管和鍺管;按其工作頻率分為高頻管(工作頻率大于3MHz)和低頻管(工作頻率小于3MHz);按其功率大小分為大功率管、中功率管和小功率管;按其工作狀態(tài)分為放大管和開關(guān)管。
2.1.2 晶體管電流放大作用及電流分配關(guān)系
要實(shí)現(xiàn)晶體管的電流放大作用,必須給晶體管提供一個(gè)合適的偏置電壓:即晶體管的發(fā)射結(jié)加上正向偏置電壓,集電結(jié)加上反向偏置電壓。由NPN型晶體管組成的放大電路3個(gè)極的電位關(guān)系為UC>UB>UE;由PNP型晶體管組成的放大電路3個(gè)極的電位關(guān)系為UE>UB>UC。NPN、PNP型管構(gòu)成的放大電路。晶體管的共射極接線如圖2-3所示。

圖2-3 晶體管的共射極接線
a)NPN型晶體管的外部電路 b)PNP型晶體管的外部電路
晶體管中各電極電流分配關(guān)系可用圖2-4所示的電路進(jìn)行測試。

圖2-4 電流分配關(guān)系測試電路
1. 測試數(shù)據(jù)
調(diào)節(jié)圖中的電位器RP,由微安表、毫安表可測得相應(yīng)的IB、IC、IE的測試數(shù)據(jù),如表2-1所示。
表2-1 IB、IC、IE的測試數(shù)據(jù)

2. 數(shù)據(jù)分析
(1)IB、IC、IE間的關(guān)系
由表2-1中的每列都可得到
IB+IC=IE (2-1)
此結(jié)果滿足基爾霍夫電流定律,即流進(jìn)晶體管的電流等于流出晶體管的電流。
(2)晶體管電流放大系數(shù)
晶體管直流電流放大系數(shù),用表示,即

由上式可得

根據(jù)表2-1及式2-3可知,基極電流較小的變化,引起集電極電流較大的變化。因此晶體管是一種電流控制型器件。即基極電流對(duì)集電極電流具有小量控制大量的作用。
根據(jù)IB+IC=IE,可得

晶體管交流電流放大系數(shù),用β表示,等于集電極電流和基極電流變化量的比值,即

通常將β稱作共射極交流電流放大系數(shù)。
,為了表示方便,以后不加區(qū)分,統(tǒng)一用β表示。
2.1.3 晶體管的特性曲線
晶體管的特性曲線是指各極上的電壓和電流之間的關(guān)系曲線,包括輸入特性曲線和輸出特性曲線。它能直觀、全面地反映晶體管各極電流與電壓之間的關(guān)系。晶體管特性曲線可以用晶體管特性圖示儀直觀地顯示出來,也可用測試電路逐點(diǎn)描繪。
1. 輸入特性曲線
輸入特性曲線是指當(dāng)集電極和發(fā)射極電壓uCE一定時(shí),輸入回路中的基極電流iB與基-射極間電壓uBE之間的關(guān)系曲線,即
iB=f(uBE)uCE=常數(shù)
圖2-5為晶體管的輸入特性曲線。由圖2-5可見,只有當(dāng)uBE大于一定電壓(稱為死區(qū)電壓或門檻電壓)時(shí),輸入回路才有iB電流產(chǎn)生。硅管的死區(qū)電壓約為0.5V,鍺管約為0.1V。當(dāng)發(fā)射結(jié)完全導(dǎo)通時(shí),晶體管也具有恒壓特性。對(duì)于小功率硅管的導(dǎo)通電壓為0.6~0.7V,對(duì)于小功率鍺管的導(dǎo)通電壓為0.2~0.3V,這是檢查晶體管是否正常工作的重要依據(jù)。

圖2-5 晶體管的輸入特性曲線
2. 輸出特性曲線
輸出特性曲線是指基極電流iB為定值時(shí),集電極電流iC同集電極與發(fā)射極之間的電壓uCE之間關(guān)系的曲線,即
iC=f(uCE)iB=常數(shù)
圖2-6為晶體管的輸出特性曲線。

圖2-6 晶體管的輸出特性曲線
根據(jù)晶體管的不同工作狀態(tài),輸出特性曲線可分為3個(gè)工作區(qū)。
(1)放大區(qū)
特性曲線中近似平行等距部分的區(qū)域稱為放大區(qū)。此時(shí),晶體管的發(fā)射結(jié)正向偏置,集電結(jié)反向偏置。有如下重要特性。
受控特性:指iC隨著iB的變化而變化,iC=βiB,體現(xiàn)了晶體管電流放大作用,即iC與uCE幾乎無關(guān),僅受iB控制。
恒流特性:指當(dāng)輸入回路中有一個(gè)恒定的iB時(shí),輸出回路便對(duì)應(yīng)一個(gè)基本不受uCE影響的恒定的iC。
各曲線間的間隔大小可體現(xiàn)β值的大小。
(2)截止區(qū)
iB=0所對(duì)應(yīng)的那條輸出特性曲線以下的區(qū)域稱為截止區(qū)。此時(shí),晶體管的發(fā)射結(jié)反向偏置(或無偏置又稱為零偏置),集電結(jié)反向偏置。在此區(qū)內(nèi),iB=0,iC=0(忽略ICEO),相當(dāng)于晶體管的C和E均處于開路,類似于開關(guān)斷開,這時(shí)uCE≈UCC。
(3)飽和區(qū)
曲線族左側(cè)iC上升段和彎曲部分之間為飽和區(qū)。此時(shí),發(fā)射結(jié)和集電結(jié)均處于正向偏置。晶體管失去了基極電流對(duì)集電極電流的控制作用。此時(shí)所對(duì)應(yīng)的uCE值稱為飽和壓降,用UCES表示。一般情況下,小功率管的UCES小于0.4V(硅管約為0.3V,鍺管約為0.1V),大功率管的UCES約為1~3V。在理想條件下,UCES≈0,晶體管C、E極之間相當(dāng)于短路狀態(tài),類似于開關(guān)閉合。
2.1.4 晶體管的主要參數(shù)
1.電流放大系數(shù)β和β
β和β是晶體管接成共射電路的直流電流放大系數(shù)和交流放大系數(shù),參見式2-2、式2-5。選擇管子時(shí),β值要恰當(dāng),β值太大的管子,工作穩(wěn)定性差;β值太小,放大能力差。低頻管的β值一般選20~100,高頻管大于10即可。
2. 極間反向飽和電流
(1)集—基極間反向飽和電流ICBO
ICBO是指發(fā)射極開路,集電結(jié)在反向電壓作用下,形成的反向飽和電流。ICBO的大小反映了晶體管的熱穩(wěn)定性,受溫度變化的影響很大,ICBO越小,說明其穩(wěn)定性越好。硅管ICBO小于鍺管。
(2)集—射極間反向飽和電流—穿透電流ICEO
ICEO是指基極開路,集電極—發(fā)射極間加上一定數(shù)值的反偏電壓時(shí),從集電極穿透集電結(jié)和發(fā)射結(jié)流入發(fā)射極的電流。它與ICBO的關(guān)系為
ICEO=(1+β)ICBO
ICEO也受溫度影響很大,溫度升高,ICEO增大。穿透電流ICEO的大小是衡量晶體管質(zhì)量的重要參數(shù),硅管的ICEO比鍺管的小。
在選用管子時(shí),應(yīng)選用反向飽和電流小的管子。
3. 極限參數(shù)
(1)集電極最大允許電流ICM
當(dāng)集電極電流太大時(shí),晶體管的電流放大系數(shù)β值下降。當(dāng)β值下降到正常值的2/3時(shí)所對(duì)應(yīng)的集電極電流iC,稱為集電極最大允許電流ICM。在實(shí)際使用中,流過集電極的電流IC必須滿足IC<ICM。
(2)集電極—發(fā)射極間的擊穿電壓U(BR)CEO
U(BR)CEO是指當(dāng)基極開路時(shí),集電極與發(fā)射極之間的反向擊穿電壓。在實(shí)際使用中,必須滿足UCE<U(BR)CEO。
(3)集電極最大耗散功率PCM
集電極最大耗散功率是指晶體管正常工作時(shí)最大允許消耗的功率(PCM=UCEIC)。這個(gè)功率損耗將使管子結(jié)溫升高。當(dāng)晶體管消耗的功率超過PCM值時(shí),將使晶體管性能變差,甚至燒壞管子。因此,在使用晶體管時(shí),PC必須小于PCM才能保證管子正常工作。功率管一般要另加散熱裝置,以滿足此條件。
當(dāng)晶體管的PCM一定時(shí),PCM=UCEIC,可得集電極功率損耗曲線,晶體管的安全工作區(qū)如圖2-7所示。功耗線左下方為安全工作區(qū),右上方為過損耗區(qū)。使用時(shí),晶體管不允許進(jìn)入過損耗區(qū)。

圖2-7 晶體管的安全工作區(qū)
2.1.5 晶體管的測試
1. 由晶體管外形初判引腳
根據(jù)晶體管的外形特點(diǎn),初判其引腳,常見典型晶體管的引腳排列圖如圖2-8所示。需指出,圖2-8中的引腳排列方法是一般規(guī)律,應(yīng)以測量為準(zhǔn)。

圖2-8 常見典型晶體管的引腳排列圖
2. 用萬用表檢測晶體管的
引腳和類型
(1)判斷基極和管型的判別
由于晶體管的基極對(duì)集電極和發(fā)射極的正向電阻都較小,可根據(jù)這個(gè)特點(diǎn)判別基極及管型。晶體管基極的判別如圖2-9所示。將萬用表撥在R×100Ω或R×1kΩ檔上,當(dāng)黑(紅)表筆接觸某一電極時(shí),將黑(紅)表筆分別與另外兩個(gè)電極接觸,輪流測試,直到測出的兩個(gè)電阻值都很小。若黑表筆接公共電極,則此極為基極,該管為NPN型管;若紅表筆接公共電極,則此極為基極,該管為PNP型管。

圖2-9 晶體管基極的判別
(2)集電極和發(fā)射極的判別
晶體管的集電極和發(fā)射極的判別如圖2-10所示,以NPN型晶體管為例先在除基極以外的兩個(gè)電極中任設(shè)一個(gè)為集電極,并將萬用表的黑表筆接在假設(shè)的集電極上,紅表筆接在另一電極上,用一個(gè)大電阻(可用兩手指)接基極的假設(shè)的集電極之間,如果萬用表所測出的阻值較小,則假設(shè)正確,另一極為發(fā)射極。
測量PNP型晶體管的集電極時(shí),用紅表筆接假設(shè)的集電極即可。

圖2-10 晶體管的集電極和 發(fā)射極的判別
- 數(shù)據(jù)通信與計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)(第2版)
- 密碼之謎
- 元器件易學(xué)通:常用元件分冊(cè)
- App Inventor移動(dòng)應(yīng)用開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)教程
- 信息論基礎(chǔ)(第2版)
- 3D教育藍(lán)皮書
- 可見光通信光源與探測器件原理及應(yīng)用
- 電子技能與實(shí)訓(xùn)項(xiàng)目教程
- Android應(yīng)用開發(fā)從入門到精通
- 電力通信光纜施工實(shí)訓(xùn)教程
- 短距離無線通信系統(tǒng)技術(shù)
- iOS開發(fā)快速進(jìn)階與實(shí)戰(zhàn)
- 移動(dòng)通信原理、技術(shù)與系統(tǒng)
- 光電定位與光電對(duì)抗
- 快速學(xué)會(huì)看電子電路圖