復習題
一、選擇題（將唯一正確答案的序號填在括號內）
1.從探測原理考慮，下面列出的輻射探測器類型中，錯誤的是（ ）
A.氣體輻射探測器B.固體輻射探測器
C.半導體輻射探測器D.閃爍輻射探測器
2.對于工業數字射線檢測技術，下面列出的常用輻射探測器中，錯誤的是（ ）
A.非晶硅探測器B.成像板（IP板）
C.圖像增強器D.氣體探測器
3.從使用角度，下面列出的應關心的輻射探測器主要性能指標中，錯誤的是（ ）
A.像素尺寸B.動態范圍C.適用能量范圍D.尺寸與重量
4.下面關于分立輻射探測器的敘述中，錯誤的是（ ）
A.結構中具有分立的輻射探測單元B.可直接給出數字化檢測圖像
C.非晶硅探測器屬于分立輻射探測器D.均為直接轉換輻射探測器
5.下面列出的輻射探測器基本性能項目中，正確的是（ ）
A.基本空間分辨力與規格化信噪比B.基本空間分辨力與動態范圍
C.基本空間分辨力與能量范圍D.基本空間分辨力與靈敏度
6.下面列出的有關輻射探測器系統基本空間分辨力的敘述中，錯誤的是（ ）
A.基本空間分辨力等于檢測圖像不清晰度的1/2
B.基本空間分辨力表征了探測器系統分辨幾何細節的最高能力
C.基本空間分辨力決定于探測器系統的固有不清晰度
D.基本空間分辨力限定了檢測系統可實現的最高空間分辨力
7.對于分立輻射探測器，下面給出的決定其基本空間分辨力大小因素中，正確的是（ ）
A.像素尺寸B.檢測布置放大倍數
C.采用射線能量D.試件材料
8.下面給出的關于規格化信噪比敘述中，正確的是（ ）
A.按基本空間分辨力決定的信噪比B.按射線能量決定的信噪比
C.按放大倍數決定的信噪比D.探測器可獲得的最高信噪比
9.關于非晶硅輻射探測器，下面給出的敘述中，存在錯誤的是（ ）
A.它是一種直接轉換的輻射探測器B.結構包括閃爍體、非晶硅層和TFT陣列
C.閃爍體將輻射轉換為光D.非晶硅層將光轉換為電信號
10.關于非晶硒輻射探測器，下面給出的敘述中，存在錯誤的是（ ）
A.是一種直接轉換的輻射探測器B.結構包括閃爍體、非晶硒層和TFT陣列
C.非晶硒層將射線轉換為電信號D.直接給出數字檢測圖像
11.下面有關IP板探測器的敘述中，錯誤的是（ ）
A.IP板結構的核心是熒光物質層
B.熒光層由特殊的熒光物質構成
C.熒光層可將射線信息以潛在圖像保存
D.采用電子激發可將射線信息轉化為可見的圖像
12.對于IP板輻射探測器系統，下面列出的組成項目中，錯誤的是（ ）
A.IP板B.IP板圖像讀出裝置
C.A/D轉換器D.IP板圖像讀出軟件
13.對于IP板輻射探測器系統，下面列出的影響其基本空間分辨力的項目中，錯誤的是（ ）
A.IP板本身性能B.被檢驗試件材料
C.IP板圖像讀出裝置性能D.IP板圖像讀出軟件與設置參數
14.對于編號標志為“10FEJB”的絲型像質計，下列敘述中，錯誤的是（ ）
A.絲型像質計的材料為鋼（Fe） B.最細金屬絲的編號為10（直徑為0.40mm）
C.是我國機械行業標準的絲型像質計D.絲型像質計金屬絲直徑公比近似為1.25
15.下列關于雙絲型像質計敘述中，錯誤的是（ ）
A.雙絲型像質計的基本結構是13對平行放置的絲對
B.編號為8的絲對直徑為0.16mm、材料為鉑，對應的不清晰度為0.32mm
C.目前雙絲型像質計可在各種檢測條件下檢測圖像的不清晰度
D.雙絲型像質計測定不清晰度依據的是不清晰度對細節圖像的影響
16.采用雙絲型像質計測量檢測圖像時，若剛剛不能分辨為絲對的絲徑為0.20mm，下面給出的檢測圖像空間分辨力線對值中，正確的是（ ）
A.5Lp/mm B.4Lp/mm C.3Lp/mm D.2.5Lp/mm
二、判斷題（判斷下列敘述是正確的或錯誤的，正確的劃○，錯誤的劃×）
1.輻射探測器，按原理可分為三類：氣體輻射探測器、閃爍輻射探測器、半導體輻射探測器。（ ）
2.半導體輻射探測器在輻射照射下可產生電子空穴對，在電場作用下可引起電信號。（ ）
3.規格化信噪比與基本空間分辨力構成了輻射探測器的基本性能。（ ）
4.基本空間分辨力是輻射探測器的基本性能之一，它決定了檢測技術系統不采用放大透照技術時可實現的最高細節分辨能力。（ ）
5.在一定照射劑量范圍內，探測器規格化信噪比隨照射劑量平方根增大而增大。（ ）
6.分立輻射探測器的規格化（標準化、歸一化）信噪比決定于輻射探測器的結構特性，與采用的射線檢測技術無關。（ ）
7.非晶硅輻射探測器由閃爍體、非晶硅層（光電二極管陣列）、TFT陣列（大面積薄膜晶體管陣列）等構成。它是一種直接轉換輻射探測器。（ ）
8.在非晶硅分立輻射探測器中，非晶硅層（光電二極管陣列）將入射射線轉換為檢測信號。（ ）
9.非晶硒分立輻射探測器，由閃爍體將入射射線轉換為檢測信號，它是一種直接轉換型輻射探測器。（ ）
10.CCD和CMOS輻射探測器，都采用閃爍體將射線轉換為光，然后由感光器件將光信號轉變為電信號。（ ）
11.IP板采用特殊的熒光物質探測射線，這種熒光物質可以近似穩定地儲存照射的射線信號。（ ）
12.IP板探測器系統的性能，決定于IP板本身的性能，與IP板圖像讀出單元的性能和圖像讀出設置的參數無關。（ ）
13.在A/D轉換器中，轉換過程包括取樣、保持、量化、編碼四個步驟。（ ）
14.平板孔像質計的EPS靈敏度與階梯孔像質計靈敏度意義相同。（ ）
15.雙絲型像質計編號為1的絲對的絲材料為鎢，直徑為0.80mm。（ ）
16.一般說，雙絲型像質計只適用于測定數字射線檢測系統的空間分辨力。（ ）
三、問答題
1.簡單說明輻射探測器系統概念。
2.簡單說明輻射探測器系統的基本性能。
3.簡述非晶硅輻射探測器的基本結構與射線信號轉換過程。
4.簡述非晶硒輻射探測器的基本結構與射線信號轉換過程。
5.簡述CR技術成像板（IP板）的基本結構與射線探測原理。
6.簡述圖像數字化的基本過程。
7.簡述雙絲型像質計的基本設計。
8.簡述使用雙絲型像質計測定射線檢測不清晰度的方法。