- 中高電壓及絕緣技術(shù)
- 高嵬主編
- 1022字
- 2023-08-28 19:11:13
1.2.4 大氣條件對氣體擊穿的影響
大氣中間隙的放電電壓隨空氣密度的增大而提高,這是因為空氣密度增大時,電子的平均自由行程縮短,使電離過程削弱的緣故。而對于空氣濕度來說,在極不均勻電場中,空氣中的水分能使間隙的擊穿電壓有所提高,這是因為水分子具有弱電負性,容易吸附電子使其形成負離子的緣故。但濕度對均勻電場間隙擊穿的影響很小,因為均勻場間隙在擊穿前各處的場強都很高,即各處電子運動速度都很高,不易被水分子捕獲而形成負離子。所以,在均勻場或稍不均勻場間隙中,通常對濕度的影響可忽略不計。本節(jié)中討論濕度對放電的影響是指空氣中水汽分子的影響,當空氣的相對濕度很高而在固體絕緣表面發(fā)生凝露時,情況就不同了。這種情況下電場分布會發(fā)生畸變,因而導致氣隙擊穿電壓或沿固體絕緣表面的閃絡(luò)電壓下降。
1.濕度校正因數(shù)和空氣密度校正因數(shù)
根據(jù)我國國家標準,在不同大氣狀態(tài)下,外絕緣的放電電壓可按如下公式校正:

式中 Us——標準大氣狀態(tài)下(氣壓為0.1013MPa,溫度為20℃,絕對濕度為11g/cm3)外絕緣放電電壓;
U——實際大氣狀態(tài)下外絕緣放電電壓;
Kd——空氣密度校正因數(shù);
Kh——濕度校正因數(shù)。
顯然,大氣狀態(tài)不同時,外絕緣試驗電壓也應(yīng)該按照式(1-68)換算。空氣密度校正因數(shù)Kd為

式中 P——試驗條件下的氣壓(Pa);
t——試驗條件下的氣溫(℃);
Ps、ts——標準狀態(tài)下的氣壓和氣溫。
濕度校正因數(shù)Kh為

式中 k——絕對濕度的函數(shù),根據(jù)外施電壓形式不同而采用圖1-22中曲線1或者曲線2。

圖1-22 k與絕對濕度h的關(guān)系
1—交流電壓或操作沖擊電壓 2—直流電壓或雷電沖擊電壓
而式(1-69)與式(1-70)中的冪m、n和w取決于電壓的形式、極性和放電距離d。目前標準中假定m=n,即

式中 δ——空氣相對密度。
2.海拔的影響
隨著海拔的增加,大氣壓力下降,空氣密度減小,導致外絕緣放電電壓也隨之下降。
海拔對外絕緣放電電壓的影響一般也由經(jīng)驗公式估計。根據(jù)我國國家標準GB/T 11022—2020《高壓交流開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備標準的共同技術(shù)要求》規(guī)定,對用于海拔4000m以下1000m以上的設(shè)備外絕緣以及干式變壓器絕緣,在非高海拔地區(qū)試驗時,其試驗電壓U應(yīng)為標準狀態(tài)下試驗電壓Us乘以海拔校正系數(shù)KA即

式中 H——安裝地點海拔。
為簡單起見,取下述確定值:m=1,對于工頻、雷電沖擊和相間操作沖擊電壓;m=0.9,對于縱絕緣操作沖擊電壓;m=0.75,對于相對地操作沖擊電壓。
以上公式還比較簡單,對于一些較復雜的,比如相同海拔、不同地區(qū)間大氣狀態(tài)以及不同濕度下的大氣狀態(tài)沒有比較好地解決,對于海拔對外絕緣放電電壓的影響,仍在繼續(xù)研究中。