前言

隨著電子產(chǎn)品使用環(huán)境越來(lái)越嚴(yán)酷，電路的復(fù)雜程度越來(lái)越高，集成電路制造工藝水平日益提高、特征尺寸日益縮小，使電路的可控性和可觀測(cè)性降低，電路故障診斷的難度也日益加大，從而影響了大規(guī)模集成電路和包含電子電路的儀器設(shè)備的可靠性和安全性。

為保證現(xiàn)代設(shè)備的安全和可靠運(yùn)行，需要采用先進(jìn)的可測(cè)性設(shè)計(jì)和故障診斷方法。通過(guò)高精度和高覆蓋率的測(cè)試，及時(shí)掌握集成電路或設(shè)備的技術(shù)指標(biāo)；通過(guò)準(zhǔn)確的故障診斷，及時(shí)地對(duì)集成電路或設(shè)備所處狀態(tài)做出判斷，爭(zhēng)取做到預(yù)防和消除故障，提高其運(yùn)行的可靠性。

在超大規(guī)模、高密度集成電路高速發(fā)展的今天，可測(cè)試性（本書簡(jiǎn)稱為可測(cè)性）設(shè)計(jì)與智能故障診斷的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，也越來(lái)越重要。因此，這就更需要與時(shí)俱進(jìn)，不斷融入新理論、新技術(shù)、新方法，以滿足日益增長(zhǎng)的測(cè)試與診斷需要。

本書主要從理論和應(yīng)用方法兩個(gè)方面對(duì)可測(cè)性設(shè)計(jì)與智能故障診斷進(jìn)行研究：可測(cè)性設(shè)計(jì)部分給出了一些設(shè)計(jì)方法和技巧；故障診斷理論部分則融入非線性泛函、信息融合和人工智能等知識(shí)和方法，以期解決非線性電路的多、軟故障診斷，提高診斷的準(zhǔn)確率和效率。

本書還針對(duì)MIMO非線性模擬電路故障診斷的難點(diǎn)問(wèn)題進(jìn)行了探討，如第6章對(duì)MIMO非線性模擬電路的沃爾泰拉核建模、智能特征提取及故障診斷理論和方法進(jìn)行了研究，給出了電路的參數(shù)建模和非參數(shù)建模的方法，并提供范例。

作者專注智能故障診斷和可測(cè)性設(shè)計(jì)方向的研究18年，主持完成的相關(guān)項(xiàng)目有國(guó)家自然基金、省自然基金（2項(xiàng)）及市科技攻關(guān)、市科技成果轉(zhuǎn)化及中小企業(yè)創(chuàng)新基金等，參加完成導(dǎo)師張禮勇教授主持的相關(guān)省攻關(guān)和市攻關(guān)項(xiàng)目等。本書對(duì)包括上述項(xiàng)目成果在內(nèi)的長(zhǎng)期研究積累進(jìn)行了梳理，總結(jié)了項(xiàng)目的主要理論和技術(shù)成果。本書第8章和第9章可測(cè)性設(shè)計(jì)部分采納了課題組成員哈爾濱工業(yè)大學(xué)劉思久教授帶領(lǐng)研究生鄭春平等研發(fā)的邊界掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì)案例，以闡明測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)思路和方法。在此向他們表示衷心的感謝!

本書還借鑒了同行專家們的很多研究成果，以使本書內(nèi)容更加系統(tǒng)、完整。在此謹(jǐn)向楊士元教授、陳光教授、何怡剛教授等專家們表示衷心的感謝!同時(shí)，也向?yàn)楸緯幾峁椭膮呛I院長(zhǎng)、張旭輝教授、劉煜坤教授等表示衷心的感謝!還要感謝彭旺林、劉雨、吳倫慧、劉國(guó)建等研究生為本書撰寫提供的幫助!更要感謝國(guó)家科學(xué)技術(shù)學(xué)術(shù)著作出版基金的資助!本書的出版還得到了機(jī)械工業(yè)出版社領(lǐng)導(dǎo)和編輯老師們的大力支持和幫助，在此深表感謝!

作者希望通過(guò)本書拋磚引玉，為該領(lǐng)域理論和技術(shù)的發(fā)展提供思路和一點(diǎn)點(diǎn)幫助。由于水平和時(shí)間有限，疏漏和不足之處在所難免，希望同行專家不吝賜教，批評(píng)指正。謝謝!

作者于哈爾濱理工大學(xué)