1.3.2　基于多光譜方法的SF₆氣體綜合檢測技術的研究意義

為了滿足新的生產需求，跟隨標準和規程的變化，研發既能滿足多種化學組分數據的準確性檢測需要又能滿足一體式檢測的SF₆氣體綜合分析儀確有必要。由于光學方法檢測精度高，無交叉干擾，規程上需檢測SF₆設備的氣體組分在光譜圖上均可找到對應吸收峰，且較易實現模塊微型化、實現一體式檢測，因此研究多光譜方法的SF₆氣體綜合檢測技術具有重要意義。