2.4　物理性能表征

2.4.1　掃描電子顯微鏡

本實(shí)驗(yàn)使用的掃描電子顯微鏡有：日立S-4700、FEI-Quanta 200F和KYKY-EM3200。粉末樣品、電極片、離子液體-聚合物電解質(zhì)無須處理，可直接用于測試；在手套箱中將電池拆開，取出電極片和電解質(zhì)，用碳酸二甲酯（DMC）清洗后晾干，隨機(jī)裁取待測試電極片和電解質(zhì)樣品，用導(dǎo)電膠帶固定于樣品臺(tái)上，并裝入密封袋后取出手套箱，迅速轉(zhuǎn)移進(jìn)SEM儀器后抽成真空狀態(tài)，等待測試。

2.4.2　差示掃描量熱法

差示掃描量熱法（different scanning calorimetry，DSC）實(shí)驗(yàn)時(shí)稱量約10mg的樣品，在各樣品要求的測試溫度范圍內(nèi)，以10℃/min的升溫速率進(jìn)行掃描。實(shí)驗(yàn)時(shí)以一個(gè)空的氧化鋁坩堝為參比，以100mL/min的氮?dú)鉃檩d氣。

2.4.3　燃燒實(shí)驗(yàn)

燃燒實(shí)驗(yàn)（flammability test）用來考察離子液體-凝膠聚合物電解質(zhì)的可燃性。采用PTFE膜包裹的鑷子夾取適量樣品，用火源快速點(diǎn)燃樣品后迅速移開火源，觀察樣品的燃燒程度，并記錄持續(xù)燃燒的時(shí)間。

2.4.4　X射線衍射

本實(shí)驗(yàn)采用XRD檢測不同條件下聚合物電解質(zhì)的結(jié)晶化程度。實(shí)驗(yàn)使用日本理學(xué)電機(jī)株式會(huì)社的D/max-γβ旋轉(zhuǎn)陽極X射線衍射儀，具體實(shí)驗(yàn)條件為：Cu K_α輻射源，石墨單色器，電壓為45kV，電流為50mA，掃描速度為5°/min，掃描角度范圍為5°～80°，取數(shù)間隔為0.02°。測試結(jié)果用MDI Jade5.0分析。

2.4.5　X射線光電子能譜

本實(shí)驗(yàn)使用的是美國PHI5700-ESCA，以Al-K_α為X射線源，X光電子能量為1486.6eV，用容式半球形精密電子能量分析器，以固定通過能模式進(jìn)行測試。功率為250W，分析室真空度大于1×10^-9Pa，分析角度為45°，首先以通過能（pass energy）PE=187.85eV在0～1350eV范圍內(nèi)做全譜掃描，然后以PE=29.55eV做每個(gè)元素的高分辨率掃描。XPS數(shù)據(jù)的擬合分析采用XPSPEAK軟件。

2.4.6　傅里葉變換紅外光譜

本實(shí)驗(yàn)采用傅里葉變換光譜分析電極/電解質(zhì)界面物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和官能團(tuán)種類，從而推測電極表面物質(zhì)的成分。光譜測試范圍為4000～500cm^-1；分辨率為0.8cm^-1；波數(shù)精度為0.01cm^-1。